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| 相位調制橢圓偏振光譜儀 | |
| (略) 在采購意向： | (略) * 年 * 月政府采購意向 |
| 采購單位： | (略) |
| 采購項目名稱： | 相位調制橢圓偏振光譜儀 |
| 預算金額： | * . *** 萬元(人民幣) |
| 采購品目： | A *** 電子工業專用生產設備 |
| 采購需求概況： | 相位調制橢圓偏振光譜儀是 * 種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量設備。由于并不與樣品接觸，對樣品沒有破壞且不需要真空。可測的材料包括：半導體、電介質、聚合物、有機物、金屬、多層膜物質。該設備的購置主要用于半導體、數據存儲、人工智能材料等相關半導體薄膜材料的研究表征，通過橢偏儀能快速有效的測量薄膜的膜厚、折射率、吸光系數、帶隙、介電常數等。 |
| 預計采購時間： | *** |
| 備注： | |
本次公開的采購意向是本單位政府采購工作的初步安排， (略) 和采購文件為準。
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