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(略) (略) * 年 * 月采購(gòu)意向項(xiàng)目-3為便于供應(yīng)商及時(shí)了解政府采購(gòu)信息，根據(jù)《 (略) 關(guān)于開(kāi)展政府采購(gòu)意向公開(kāi)工作的通知》（財(cái)庫(kù)〔 * 〕 * 號(hào)）等有關(guān)規(guī)定，現(xiàn) (略) * 年 * 月采購(gòu)意向項(xiàng)目-3采購(gòu)意向公開(kāi)如下：序號(hào)采購(gòu)項(xiàng)目名稱(chēng)采購(gòu)品目采購(gòu)需求概況預(yù)算金額（萬(wàn)元）預(yù)計(jì)采購(gòu)時(shí)間備 (略) 發(fā)射掃描電鏡系統(tǒng)采購(gòu)A *** 顯 (略) 發(fā)射掃描電鏡系統(tǒng)，1套。 (略) 發(fā)射掃描電鏡系統(tǒng)配備 * 次電子及背散射電子探測(cè)器，主要用于開(kāi)展各種樣本表面的微觀形貌的高分辨觀察；配備X射線(xiàn)能譜 (略) 微區(qū)成分分析；配有EBSD可測(cè)試分析微區(qū)晶體晶粒取向和織構(gòu)；原位拉伸臺(tái)可實(shí)現(xiàn)力學(xué)性能分析，如拉伸、壓縮、疲勞等。原位臺(tái)結(jié)合掃描電鏡和EBSD附件，通過(guò)原位力學(xué)加載，經(jīng)電鏡 * 次電子原位觀察晶粒尺寸變化，結(jié)合EBSD功能分析樣品晶粒取向及織構(gòu)。 *** 本次公開(kāi)的采購(gòu)意向是本單位政府采購(gòu)工作的初步安排， (略) 和采購(gòu)文件為準(zhǔn)。 (略) ***