填表日期:2025-04-09
山 (略) 變溫X射線發光光譜測試系統(X-XILS-P70V-5) | |||
(略) (略) (略) 27號山東大學 (略) 生命北樓557 | 2 | ||
山東大學 | 李術才 | ||
30 | 1.0 | ||
2025-09-01 | |||
新建 | |||
一、建設內容:變溫X射線發光光譜測試系統(型號:X-XILS-P70V-5)由廈門 (略) 在我 (略) 進行安裝調試。二、建設規模:廈門 (略) 生產的X射線衍射儀(X射線源靶材:鎢;角度:90度;電壓:5-70KV;電流:據功率匹配(最大功率12W)功率: 0-12W;控制方式:USB連接,通過自帶PC(Windows)軟件調節控制管電壓和管電流。X射線發光光譜測試裝置防護性能:X射線泄露值≤1uSv/*@* (略) ;透光波段:200~2000nm;適用樣品:粉末、液體測試;提示:可拓展功能:配合外接光源上/下轉換光譜測試;配合變溫臺實現變溫光譜測試。變溫臺控溫:控溫范圍:77K-800K;控溫精度:≤0.1℃;升溫速率:0.1-50℃/min;溫度設定:軟件控制,可程控分段控溫。光學:樣品臺直徑:Ф22mm;光孔直徑:2mm;臺窗厚度:0.5mm;適用波段:200-2000nm; 最小物鏡/聚光鏡工作距離:4.7/12.5mm;提示:配有氣密接頭,可外加換氣系統控制樣品環境;可升級成77-900K系統。探針數量:4個)。 三、安置房間具體位置: (略) (略) (略) 27號山東大學 (略) 生命北樓557 | |||
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